Аналитическое оборудование для исследования в ЦКП «Материаловедение и диагностика в передовых технологиях» ФТИ им. А.Ф. Иоффе
Просвечивающий электронный микроскоп (TEM) JEM-2100F, JEOL
|
Позволяет исследовать структурное совершенство слоев и интерфейсов, их толщину, а также параметры наноразмерных включений и отдельных наночастиц. |
Растровый электронный микроскоп (SEM) JSM-7001F, JEOL
|
Формирование изображения осуществляется путём сканирования поверхности исследуемого объекта остросфокусированным электронным пучком и регистрации сигналов, возникающих в результате взаимодействия электронов с веществом. Разрешение - 1.2 нм. EDS, WDS – спектрометры. EBSD - датчик. |
Сканирующий зондовый микроскоп Dimension 3100; Veeco
|
Получение изображений топографии поверхности с высоким пространственным разрешением. |
Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER, Bruker
|
Для исследования кристаллических материалов |
Рентгеновский дифрактометр D2 PHASER Bruker
|
Для исследования органических и неорганических поликристаллических материалов, порошков, наночастиц |