Научная
деятельность
Университет ИТМО

Меню

Аналитическое оборудование для исследования в ЦКП «Материаловедение и диагностика в передовых технологиях» ФТИ им. А.Ф. Иоффе

Просмотр в международном научном подразделении «Транснациональный научно-образовательный UniFEL центр перспективных методов исследования материалов»

Просвечивающий электронный микроскоп  (TEM) JEM-2100F, JEOL

Позволяет исследовать структурное совершенство слоев и интерфейсов, их толщину, а также параметры наноразмерных включений  и отдельных наночастиц.

 

Растровый электронный микроскоп (SEM) JSM-7001F, JEOL

Формирование изображения осуществляется путём сканирования поверхности исследуемого объекта остросфокусированным электронным пучком и регистрации сигналов, возникающих в результате взаимодействия электронов с веществом.

Разрешение - 1.2 нм.

EDS, WDS – спектрометры.

EBSD - датчик.

 

Сканирующий зондовый микроскоп Dimension 3100; Veeco

Получение изображений топографии поверхности с высоким пространственным разрешением.

 

Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER, Bruker

Для исследования кристаллических материалов

 

Рентгеновский дифрактометр D2 PHASER Bruker

Для исследования органических и неорганических поликристаллических материалов, порошков, наночастиц