Научная
деятельность
Университет ИТМО

Меню

Система рентгеноскопии печатных плат XT V 160

Просмотр в международном научном подразделении «Международная лаборатория «Архитектура и методы проектирования встраиваемых систем и систем на кристалле»»

Система рентгеноскопии Metris X-TEK XT V 160 позволяет исследовать печатные платы на предмет наличия внутренних и внешних дефектов. Высокое разрешение, составляющее 0.5 мкм,  позволяет исследовать самые сложные электронные изделия.