Блоки зондовой микроскопии

Просмотр в международном научном подразделении «Международный научно-исследовательский центр нанофотоники и метаматериалов»

Каждый из двух блоков зондовой микроскопии представляет собой полностью автоматизированный сканирующий зондовый микроскоп с высокоскоростным 100 мкм сканером. В совокупности с блоком оптической микроскопии и спектроскопии эти системы позволяют проводить измерения флуоресценции или рамановского рассеяния одновременно с АСМ сканированием без перекрестных помех.

Система AIST SmartSPM™ имеет верхний и боковой оптический доступ.	Система AIST CombiScope™ имеет нижний оптический доступ.
В комплект входят объективы Mitutoyo M Plan Apo 10x/0.28, M Plan Apo 50x/0.55, M Plan Apo 100x/0.7, M Plan Apo 100x/0.9.	В комплект входят объективы Olympus UPlanFL N 20x/0.5, UPlanFL N 40x/0.75, UPlanSApo 60x/1.2, PlanFL 100x/0.95.

Доступные измерительные АСМ методики: контактная, полуконтактная и бесконтактная АСМ АСМ латеральных сил измерение фазового контраста метод модуляции силы силовая спектроскопия АСМ зонда Кельвина магнитно-силовая микроскопия электро-силовая микроскопия микроскопия пьезо-отклика сканирующая емкостная микроскопия контактная и полуконтактная АСМ в жидкости АСМ токов растекания измерение вольтамперных характеристик сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) картирование фототока токовая нанолитография измерения в режиме поверхностных сдвиговых сил нанолитография наноманипуляции Shear-Force микроскопия