Научная
деятельность
Университет ИТМО

Меню

Блоки зондовой микроскопии

Просмотр в международном научном подразделении «Международный научно-исследовательский центр нанофотоники и метаматериалов»

Каждый из двух блоков зондовой микроскопии представляет собой полностью автоматизированный сканирующий зондовый микроскоп с высокоскоростным 100 мкм сканером. В совокупности с блоком оптической микроскопии и спектроскопии эти системы позволяют проводить измерения флуоресценции или рамановского рассеяния одновременно с АСМ сканированием без перекрестных помех.

Система AIST SmartSPM™ имеет верхний и боковой оптический доступ. Система AIST CombiScope™ имеет нижний оптический доступ.
В комплект входят объективы Mitutoyo M Plan Apo 10x/0.28, M Plan Apo 50x/0.55, M Plan Apo 100x/0.7, M Plan Apo 100x/0.9. В комплект входят объективы Olympus UPlanFL N 20x/0.5, UPlanFL N 40x/0.75, UPlanSApo 60x/1.2, PlanFL 100x/0.95.

Доступные измерительные АСМ методики:
  • контактная, полуконтактная и бесконтактная АСМ
  • АСМ латеральных сил
  • измерение фазового контраста
  • метод модуляции силы
  • силовая спектроскопия
  • АСМ зонда Кельвина
  • магнитно-силовая микроскопия
  • электро-силовая микроскопия
  • микроскопия пьезо-отклика
  • сканирующая емкостная микроскопия
  • контактная и полуконтактная АСМ в жидкости
  • АСМ токов растекания
  • измерение вольтамперных характеристик
  • сканирующая туннельная микроскопия (СТМ)
  • картирование фототока
  • токовая нанолитография
  • измерения в режиме поверхностных сдвиговых сил
  • нанолитография
  • наноманипуляции
  • Shear-Force микроскопия