Научная
деятельность
Университет ИТМО

Меню

Система контроля параметров и составления карты параметров пластин

Просмотр в международном научном подразделении «Международный научный центр функциональных материалов и устройств оптоэлектроники и электроники»

Система предназначена для проверки электрических и оптических характеристик тестируемого образца и для распознавания его параметров, основанных на заданных значениях.

Система состоит:

1.PXI блок:

-зонд,

-плата переключения источника тока,

-блок точного перемещения,

-плата источника измерителя,

-PXI плата источника измерителя,

-двухканальный измеритель мощности оптического излучения,

-оптический спектрометр,

-модуль цифрового ввода-вывода.

2. USB4000-UV-VIS-ES малогабаритный волоконный спектрометр

3. Keithley 2601B источник измеритель программируемый

4. Сhroma 58154 ESD испытательный модуль

5. Контроллер