Научная
деятельность
Университет ИТМО

Меню

Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Merlin (Карл Цейс, Германия)

Просмотр в международном научном подразделении «Международный научно-образовательный центр физики наноструктур»

Микроскоп предназначен для исследования наноструктур. Пространственное разрешение 0.8 нм на отражение, 0.6 нм на пропускание.